Применение средств трассировки для анализа сбоев микроконтроллера, возникающих при воздействии нейтронов с энергией 14 МэВ
- Авторы: Пилипенко А.С.1, Тихонов М.И.1
 - 
							Учреждения: 
							
- Российский федеральный ядерный центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. акад. Е.И. Забабахина
 
 - Выпуск: Том 69, № 2 (2024)
 - Страницы: 199-204
 - Раздел: ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ
 - URL: https://edgccjournal.org/0033-8494/article/view/650715
 - DOI: https://doi.org/10.31857/S0033849424020117
 - EDN: https://elibrary.ru/KMELDA
 - ID: 650715
 
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Проанализированы возможности средств поддержки трассировки микроконтроллера с ядром Cortex-M3 для исследования сбоев, возникающих при облучении нейтронами с энергией 14 МэВ. Показано, что в большинстве случаев зависание вызвано переходом микроконтроллера в бесконечный цикл обработки неактивного исключения. Оценено значение сечения эффекта функционального прерывания и тиристорного эффекта.
Ключевые слова
Полный текст
Об авторах
А. С. Пилипенко
Российский федеральный ядерный центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. акад. Е.И. Забабахина
							Автор, ответственный за переписку.
							Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
				                					                																			                												                	Россия, 							Снежинск Челябинской обл., 456770						
М. И. Тихонов
Российский федеральный ядерный центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. акад. Е.И. Забабахина
														Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
				                					                																			                												                	Россия, 							Снежинск Челябинской обл., 456770						
Список литературы
- Peña-Fernandez M., Lindoso A., Entrena L., Garcia-Valderas M. // IEEE Trans. 2020. V. NS-67. № 1. P. 126.
 - Пилипенко А. С. // РЭ. 2022. Т. 67. № 5. С. 514.
 - РД 134-0175-2009. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. Нормативный документ по стандартизации РКТ. М.:“ЦНИИ Машиностроения”, 2009. №19720. 29 с.
 - ARM DDI 0403D “ARMv7-M Architecture Reference Manual” / Cambridge: ARM Limited, 2010. 1020 р.
 - Пилипенко А. С., Тихонов М. И. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 52.
 - Протопопов Г. А., Казанцев Д. А. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 125.
 - Irom F., Miyahira T. F. // Radiation Effects Data Workshop. 2005. P. 36.
 - Irom F., Miyahira T. F. // IEEE Trans. 2005. V. NS-52. № 6. P. 2475.
 - Weulersse C., Guibbaud N., Beltrando A.-L. et al.// IEEE Trans. 2017. V. NS-64. № 8. P. 2268.
 
Дополнительные файлы
				
			
						
						
						
					
						
									



