Informaçao sobre o Autor
Sergeev, V. A
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Nº 6 (2024) | Electromagnetic methods | TESTING SEMICONDUCTOR PRODUCTS USING LOW-FREQUENCY NOISE PARAMETERS |
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Palavras-chave
Full Matrix Capture (FMC)
Total Focusing Method (TFM)
acoustic emission
antenna array
coercive force
defect
eddy current testing
flaw detection
image processing
infrared thermography
magnetic method
metallography
non-destructive testing
nondestructive testing
segmentation
standing waves
thermal testing
thermography
ultrasonic inspection
ultrasonic testing
ultrasound
Edição corrente
Nº 5 (2025)
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