The energy position of size quantization levels in multiple HgCdTe quantum wells

Capa

Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Somente assinantes

Resumo

The energy position of size quantization levels size levels in the multiple Hg0.3Cd0.7Te/HgTe quantum wells grown by molecular beam epitaxy on (013)GaAs substrate has been studied. The experimental and calculated values of the energy position of three size quantization levels are obtained.

Sobre autores

N. Mikhailov

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

Autor responsável pela correspondência
Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

V. Remesnik

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

V. Aleshkin

Institute for Physics of Microstructures of the Russian Academy of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 603950, Nizhny Novgorod

S. Dvoretsky

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

I. Uzhakov

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk

V. Shvets

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy
of Sciences; Novosibirsk State University

Email: mikhailov@isp.nsc.ru
Russia, 630090, Novosibirsk; Russia, 630090, Novosibirsk

Bibliografia

  1. Lei W., Antoszewski J., Faraone L. // Appl. Phys. Rev. 2015. V. 2. Art. No. 041303.
  2. Bhan R.K., Dhar V. // Opto-Electron. Rev. 2019. V. 27. No. 2. P. 174.
  3. Rogalski A. // Rep. Prog. Phys. 2005. V. 68. No. 10. P. 2267.
  4. Capper P., Garland J. Mercury cadmium telluride. Growth, properties and applications. Chichester: John Wiley & Sons Ltd, 2011. P. 556.
  5. Erdem Arkun F., Edwall D.D., Ellsworth J. et al. // J. Electron. Mater. 2017. V. 46. No. 9. P. 5374.
  6. Reddy M., Peterson J.M., Vang T. et al. // J. Electron. Mater. 2011. V. 40. No. 8. P. 1706.
  7. Ziegler J., Wenisch J., Breiter R. et al. // J. Electron. Mater. 2014. V. 43. No. 8. P. 2935.
  8. Варавин В.С., Дворецкий С.А., Михайлов Н.Н. и др. // Автометрия. Т. 56. № 5. С. 12; Varavin V.S., Dvoretskii S.A., Mikhailov N.N. et al. // Optoelectron. Instrum. Data Process. 2020. V. 56. No. 5. P. 456.
  9. Schulman J.N., McGill T.C. // Appl. Phys. Lett. 1979. V. 34. No. 10. P. 663.
  10. Aleshkin V.Y., Dubinov A.A., Morozov S.V. et al. // Opt. Mater. Express. 2018. V. 8. No. 5. P. 1349.
  11. Ryzhii M., Otsuji T., Ryzhii V. et al. // Opto-Electron. Rev. 2019. V. 27. No. 2. P. 219.
  12. Zhou Y.D., Becker C.R., Selamet Y. et al. // J. Electron. Mater. 2003. V. 32. No. 7. P. 608.
  13. Grein C.H., Jung H., Singh R. et al. // J. Electron. Mater. 2005. V. 34. No. 6. P. 905.
  14. Becker C.R., Latussek V., Pfeuffer-Jeschke A. et al. // Phys. Rev. B. V. 62. No. 15. Art. No. 10353.
  15. Михайлов Н.Н., Швец В.А., Дворецкий С.А. и др. // Автометрия. 2003. Т. 39. № 2. С. 71.
  16. Mikhailov N.N., Smirnov R.N., Dvoretsky S.A. et al. // Int. J. Nanotechnol. 2006. V. 3. No. 1. P. 120.
  17. Сидоров Ю.Г., Дворецкий С.А., Михайлов Н.Н. и др. // Опт. журн. 2000. Т. 67. № 1. С. 39; Sidorov Yu.G., Dvoretski S.A., Mikhailov N.N. et al. // J. Opt. Technol. 2000. V. 67. No. 1. P. 31.
  18. Сидоров Ю.Г., Дворецкий С.А., Варавин В.С. и др. // ФТП. 2001. Т. 35. № 9. С. 1092; Sidorov Yu.G., Dvoretskii S.A., Varavin V.S. et al. // Semiconductors. 2001. V. 35. No. 9. P. 1045.
  19. Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В., Швец В.А. // Автометрия. 2011. Т. 47. № 5. С. 5; Spesivtsev E.V., Rykhlitskii S.V., Shvets V.A. // Optoelectron. Instrument. Proс. 2011. V. 47. No. 5. P. 419.
  20. Ржанов А.В., Свиташев К.К., Мардежов А.С., Швец В.А. // ДАН. 1987. Т. 297. № 3. С. 604.
  21. Dvoretsky S., Mikhailov N., Sidorov Yu. et al. // J. Electron. Mater. V. 39. No. 7. P. 918.
  22. Швец В.А., Михайлов Н.Н., Икусов Д.Г. и др. // Опт. и спектроск. 2019. Т. 127. № 8. С. 318; Shvets V.A., Mikhailov N.N., Ikusov D.G. et al. // Opt. Spectrosс. 2019. V. 127. No. 2. P. 340.
  23. Швец В.А. // Опт. и спектроск. 2009. Т. 107. № 5. С. 822; Shvets V.A. // Opt. Spectrosс. 2009. V. 107. P. 780.
  24. Швец В.А., Азаров И.А., Спесивцев Е.В. и др. // ПТЭ. 2016. № 6. С. 87; Shvets V.A., Azarov I.A., Spesivtsev E.V. et al. // Instrum. Exp. Tech. 2016. V. 59. No. 6. P. 857.
  25. Zholudev M., Teppe F., Orlita M. et al. // Phys. Rev. B. 2012. V. 86. Art. No. 205420.
  26. Pfeuffer-Jeschke A. PhD thesis. Germany: Universität Würzburg. Physikalisches Institut. 2000.
  27. Minkov G.M., Aleshkin V.Ya., Rut O.E. et al. // Phys. Rev. B. 2017. V. 96. Art. No. 035310.
  28. Novik E.G., Pfeuffer-Jeschke A., Jungwirth T. et al. // Phys. Rev. B. 2005. V. 72. Art. No. 035321.
  29. Takita K., Onabe K., Tanaka S. // Phys. Stat. Sol. B. 1979. V. 92. P. 297.
  30. Иконников А.В., Бовкун Л.С., Румянцев В.В. и др. // ФТП. 2017. Т. 51. № 12. С. 1588; Ikonnikov A.V., Bovkun L.S., Rumyantsev V.V. et al. // Semiconductors. 2017. V. 51. No. 12. P. 1531.

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
2.

Baixar (105KB)
3.

Baixar (149KB)
4.

Baixar (115KB)
5.

Baixar (122KB)
6.

Baixar (81KB)
7.

Baixar (103KB)

Declaração de direitos autorais © Н.Н. Михайлов, В.Г. Ремесник, В.Я. Алешкин, С.А. Дворецкий, И.Н. Ужаков, В.А. Швец, 2023